渦流測厚儀（https://www.linshangtech.cn/tech/tech554.html）是利用磁感應(yīng)和渦流原理對金屬工件上的鍍層或電鍍層厚度進行無損測量的儀器。根據(jù)磁感應(yīng)原理，涂層或鍍層的基體材料是鐵、鋼等導(dǎo)磁率好的金屬，其表面的涂層或鍍層是非磁性材料。工件和探頭的涂層厚度可以通過測量探頭的磁感應(yīng)強度來計算。渦流的原理是根據(jù)金屬基體的渦流效應(yīng)改變振蕩頻率。頻率變化與基底和探針之間的非金屬厚度有關(guān)，并計算出非金屬涂層的厚度。林上LS221渦流測厚儀參數(shù)：

測量原理    Fe：霍爾效應(yīng)/NFe：電渦流效應(yīng)

探頭類型    外置連線式

測量范圍    0.0-2000μm

分辨率  0.1μm：(0μm-99.9μm)

1μm：(100μm-999μm)

0.01mm：(1.00mm-2.00mm)

測量精度    ≤±(3%讀數(shù)+2μm)

單位    μm / mil

測量間隔    0.5s

測量區(qū)域    ? = 25mm

曲率半徑    凸面：5mm 凹面：25mm

基體厚度    Fe：0.2mm/NFe：0.05mm

顯示    128×48點陣LCD

供電方式    2節(jié) 1.5V AAA堿性電池

工作溫度范圍    0℃ ～ 50℃

存儲溫度范圍    -20℃～60℃

主機尺寸    101*62*28 mm

探頭尺寸    71*26*22 mm

重量(含電池)    114g

對于測量儀器，校準是一個控制和記錄的過程，儀器在規(guī)定條件下的測量精度可以通過測量溯源校準標準來驗證。渦流測厚儀在長期使用過程中，儲存環(huán)境過于潮濕，或儀器與探頭發(fā)生強烈碰撞，探頭磨損，可能導(dǎo)致儀器測量不準確。

很多用戶不知道渦流測厚儀需要校準，所以他們直接拿起渦流測厚儀開始測量產(chǎn)品。經(jīng)過反復(fù)測試，他們發(fā)現(xiàn)數(shù)字差異并不太大，他們認為這是正確的測量讀數(shù)。然而，眾所周知，儀器的測量標準并不準確，那么我們?nèi)绾螠y量準確的讀數(shù)呢？有些客戶知道需要校準，但對渦流測厚儀的校準方法知之甚少，沒有進行準確的校準，所以測量的數(shù)值結(jié)果仍然存在偏差。